こうした課題に対し、アリオンのテストフィクスチャがどう応えるか




製品仕様
CEM CLB6.0 Test Fixture
OCP NIC 3.0 CLB6.0 Test Fixture

APT25013
概要
● PCIe OCP NIC 3.0 フォームファクターに対応
● 2x Thru 校正ラインを備えた構造
アプリケーション
● PCIe Gen1~Gen6 ホストの電気テスト
● アリオン・電気マルチポート・システム(AEMS)-16T
E1/E3 CLB6.0 Test Fixture

APT25015
概要
● PCIe EDSFF E1/E3 フォームファクターに対応
● 2x Thru 校正ラインを備えた構造
アプリケーション
● PCIe Gen1~Gen6 ホストの電気テスト
● アリオン・電気マルチポート・システム(AEMS)-8T
M.2 CLB6.0 Test Fixture

APT22105
概要
● PCIe M.2 Full Lanes フォームファクターに対応
● 2x Thru 校正キット付き
アプリケーション
● PCIe Gen1~Gen6 ホストの電気テスト
● アリオン・電気マルチポート・システム(AEMS)-4T
U.2/U.3 CLB6.0 Test Fixture

APT25042
概要
● PCIe U.2/U.3 フォームファクターに対応
● ゴールデンフィンガータイプでU.2コネクターにおける挿入損失(IL)を低減
● 2x Thru 校正ラインを備えた構造
アプリケーション
● PCIe Gen1~Gen6 ホストの電気テスト
● アリオン・電気マルチポート・システム(AEMS)-4T