アリオンのテストフィクスチャ：高速測定を極めるゴールデン基準テストメソッド
高周波・高速伝送の世界では、正確かつ信頼性の高い信号測定がますます難しくなっています。その中で、信号の完全性、インピーダンス整合、電磁干渉（EMI）の遮蔽は、正確な測定結果を得るために非常に重要です。適切なフィクスチャがない場合、不正確な測定データや再設計による高コスト、業界標準に準拠できないリスクが生じます。 PCIe Gen 6、ハイスピード イーサネット、SAS、MCIOなどの技術が進化する中、より高精度な測定ソリューションが求められています。これらの高速インターフェースは非常に高い周波数で動作するため、信号完全性の検証は業界標準に適合するための鍵となります。信号損失、反射、EMIなどの課題に対応するには、歪みを最小限に抑え、測定の精度を維持するために高いカスタマイズ性を持ったフィクスチャが必要です。 アリオンは、業界団体が認定する標準化されたフィクスチャの提供に加え、お客様のニーズに合わせたカスタムテストフィクスチャの設計にも力を入れています。PCIe Gen 6、ハイスピード イーサネット、SAS、MCIO、RF測定など、さまざまな高速インターフェース向けに、信号損失の最小化、接地設計の最適化、測定の再現性を確保する専門的なフィクスチャ設計サービスを提供しています。高度な工学技術、厳選された材料、精密な製造技術を駆使し、高性能なフィクスチャを通じてテストプロセスを効率化し、測定の信頼性を向上させます。 高速測定を極めるゴールデン基準テストメソッドとは アリオンは、業界標準に準拠したフィクスチャソリューションと高度な技術力、精密なエンジニアリングを組み合わせています。当社独自のゴールデン基準テストメソッドは、すべてのフィクスチャが最適な信号完全性を達成できるように設計されており、高い安定性と再現性のある測定結果を提供します。ますます高速かつ複雑になる技術環境の中で、アリオンは確実に信頼できるパートナーです。 カスタムフィクスチャの利点 標準されたフィクスチャ：アリオンはPCIe、USB、DisplayPort、HDMI [...]
