高周波・高速伝送の世界では、正確かつ信頼性の高い信号測定がますます難しくなっています。その中で、信号の完全性、インピーダンス整合、電磁干渉（EMI）の遮蔽は、正確な測定結果を得るために非常に重要です。適切なフィクスチャがない場合、不正確な測定データや再設計による高コスト、業界標準に準拠できないリスクが生じます。
PCIe Gen 6、ハイスピード イーサネット、SAS、MCIOなどの技術が進化する中、より高精度な測定ソリューションが求められています。これらの高速インターフェースは非常に高い周波数で動作するため、信号完全性の検証は業界標準に適合するための鍵となります。信号損失、反射、EMIなどの課題に対応するには、歪みを最小限に抑え、測定の精度を維持するために高いカスタマイズ性を持ったフィクスチャが必要です。
アリオンは、業界団体が認定する標準化されたフィクスチャの提供に加え、お客様のニーズに合わせたカスタムテストフィクスチャの設計にも力を入れています。PCIe Gen 6、ハイスピード イーサネット、SAS、MCIO、RF測定など、さまざまな高速インターフェース向けに、信号損失の最小化、接地設計の最適化、測定の再現性を確保する専門的なフィクスチャ設計サービスを提供しています。高度な工学技術、厳選された材料、精密な製造技術を駆使し、高性能なフィクスチャを通じてテストプロセスを効率化し、測定の信頼性を向上させます。
高速測定を極めるゴールデン基準テストメソッドとは
アリオンは、業界標準に準拠したフィクスチャソリューションと高度な技術力、精密なエンジニアリングを組み合わせています。当社独自のゴールデン基準テストメソッドは、すべてのフィクスチャが最適な信号完全性を達成できるように設計されており、高い安定性と再現性のある測定結果を提供します。ますます高速かつ複雑になる技術環境の中で、アリオンは確実に信頼できるパートナーです。
カスタムフィクスチャの利点
- 標準されたフィクスチャ：アリオンはPCIe、USB、DisplayPort、HDMI など各種団体と協力し、業界基準に準拠した標準フィクスチャを開発しています。
- 高精度測定：信号の完全性を確保し、正確な測定データを実現します。
- 信号損失の低減：高精度な設計により減衰と反射を最小限に抑え、測定品質を向上します。
- インピーダンス整合の最適化：PCIe Gen 6、ハイスピード イーサネット、SAS、MCIOなどの高速インターフェース基準に適合します。
- 測定の再現性向上：一貫した設計により、信頼性の高いテスト結果を安定的に取得します。
- 柔軟な設計対応：用途に応じた信号経路や接地設計をカスタマイズすることが可能です。
- 高い互換性：オシロスコープ、スペクトラムアナライザ、ネットワークアナライザなど、既存の測定機器とシームレスに統合することが可能です。
- テスト効率の向上：機構設計の最適化と操作性の向上により、開発時間とコストを削減できます。
高効率かつ安定した測定を求める皆様に向けて、アリオンはお客様のニーズに応じたフィクスチャ設計を通じて、効率的なテストプロセスをサポートします。
